2008年1月24日，牛津仪器公司在上海南新雅华美达大酒店召开亚洲区新产品发布会，进行X-Strata980全球首站发布。这款最新研发的产品X-Strata980运用X 荧光原理实现痕量元素分析及镀层厚度测量，结合大功率X射线光管和高分辨率探测器，检测下限达到PPM精度，并具有超强的分析模型。牛津仪器新产品研发中心总监Dr. Andy Ellis表示，这款新产品的发布标志着牛津仪器已经成为全球唯一的能提供包括便携式、台式（微聚焦、块状分析）XRF分析仪器的供应商，能够为客户提供针对RoHS筛选的完整解决方案。
随后牛津仪器将陆续在以下活动中推广这款新产品：
SMT/PCB & Nepcon Korea - Feb 20-22
CPCA 上海 - Mar 18-20
IPC/APEX Las Vegas - April 1-3
牛津仪器工业分析部Oxford Instruments Industrial Analysis
牛津仪器工业分析部在XRF分析技术领域拥有超过40年经验，至今已有数以万计的各种仪器在世界各地服务于各行各业。这些仪器可以广泛地用于工业质量控制部门。XRF分析系统可以实现各种材料（固体、液体、粉末、糊状物、油脂、薄膜等）中元素组成的快速、无损检测。同时，也可实现样品表面涂镀层厚度或组成分析。
手持式X射线荧光分析仪X-MET和移动式直读光谱仪ARC-MET是对合金分类鉴定、RoHS有害元素检测的重要工具。
Lab-X、Twin-X、ED2000以及MDX1000各种XRF光谱仪应用于各种不同领域产品的日常分析。比如，石油产品的硫含量、水泥中钙含量的分析，我们都能提供可靠性超群的光谱仪来满足您的分析需求，因为我们具备多类产品共您选用。
对于各种不同薄膜的厚度测量要求，牛津仪器不但为您提供各类高性能的XRF测厚仪，同时还有各种不同型号的磁感和涡流的手持式测厚仪。
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