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安捷伦新款AOI平台提升后回流检测效率

文章来源:最新采集     发布时间:2008/1/11 9:17:22  【关闭】
 安捷伦科技在本月举办的德国Productronica贸易博览会上推出了新款自动化光学检测(AOI)平台Medalist sj5000。该产品以后回流(post-reflow)检测为目标,采用易用且弹性的平台,可协助印刷电路板制造商因应表面黏着技术(SMT)瞬息万变的需求。新款sj5000的最大设计重点在于弹性化,并提供一系列光学检测技术和改良的机械功能,包括与Rockwell Automation的Anorad部门共同开发的全新线性起重架;新的简化型输送机和夹紧装置设计;以及更容易接触到系统组件且能提供更佳运行时间(uptime)支持的新表面(skin)。这些功能可协助新手和资深的操作员在快节奏的SMT生产在线迅速达到最多的检测结果。

      安捷伦表示,Agilent sj5000是为了处理现今复杂且不断缩小的印刷电路板组件而开发,它可以在不牺牲速度和分辨率的情况下检测最小的01005组件。此平台可以轻易整合到客户目前采用Agilent Medalist SJ50 Series 3 AOI系统的生产线中。台湾安捷伦董事长申义龙表示:「sj5000为未来的创新AOI技术提供了一个新的‘弹性基础’。我们现在所设计的解决方案,将能协助制造商克服未来的挑战,即使PCBA变得愈来愈复杂且生产线拍速率(beat rates)持续地提高。」


 
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