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行业新闻  

ARM选择XJTAG用于RealView开发工具调试与测试

文章来源:最新采集     发布时间:2007/9/21 9:29:29  【关闭】
XJTAG已宣布ARM选择XJTAG边界扫描开发系统来改进和加快ARM® RealView®开发硬件工具系列的调试与测试过程,该系列工具包括各种

高密度、多层开发板。


        目前,ARM正在其最新一代RealView平台基板上使用XJTAG。RealView平台基板中含多种高引脚数球栅阵列(BGA)设备,包括处理器、

专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)和复杂可编程逻辑器件(CPLD)。

        ARM系统设计部平台工程经理Spencer Saunders说:"由于每块板上有数万个引脚,我们认识到,只有使用一台边界扫描测试系统才可

能在有效的时间内验证这些电路。经过对不同竞争性选项的评估,我们选择了XJTAG边界扫描系统,因为这些系统具备较高的功率、性能、多功

能性和成本效益。"

        XJTAG系统使ARM能够加快调试与测试进程、实现测试覆盖率突破90%大关、完成每块板十分钟的边界扫描生产测试目标,并大大提高产

量。

 
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