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KIC参展2007年印度国际电子元器件、材料及电子设备展 |
| 文章来源：最新采集
发布时间:2007/2/2 8:29:27 【关闭】 |
KIC宣布将在即将来临的2007年印度国际电子元器件、材料及电子设备展（Componex/ElectronicIndia）其分销商Mectronics Marketing Services展台（第166号）上展出KIC Vision和24/7，展会定于2007年2月6日至8日在印度新德里Pragati Maidan国际展览中心举行。
KIC VISION是一种低成本自动化温度曲线测量系统，专为那些希望排除定期为回流炉测量温度曲线这种手工工作的客户而设计。尽管这种测量温度曲线工作对于生产质量和工艺文件而言很重要，但许多电子制造商都因此类手工工作带来的负面影响而受到困扰。这些负面影响包括生产流程中断、劳动力和材料开支（温度曲线测量仪、热电偶和"金板"等）、易错的测量方法及不足的温度曲线测量导致质量控制欠佳的情况。
与温度曲线手工测量仪相比，易用型KIC Vision的定价具竞争力，它同时在以下两个方面提供了最佳表现--持续自动在后台运行，并且提供每小时一次频繁提供广受欢迎的曲线图。该系统依靠回流炉中的内埋式传感器和久经证明的虚拟温度曲线软件来精确地测量产品温度范围。基线曲线测量完毕后，系统会自动测量产品温度曲线，并将其记录电脑，无需任何其它手工输入。测量的温度曲线数据包含诸如最高温度、浸透度、工艺窗口等所有相关工艺数据。用户可选择自动仿型频率，其范围从每小时绘制一个温度曲线到每周每隔一小时绘制一次温度曲线。
KIC的24/7工艺监控系统为热工艺带来了创新的自动化水平：自动为每项产品测量温度曲线、24小时不间断监控、统计过程控制（SPC）制图、分析、文件编排及生产可追溯性--以上所有工作均在单一的直观产品中完成。后台执行持续跟踪，因而决不干扰生产流程。实时工艺数据使工程师和管理者得以制定重要的成本控制政策和质量控制决策。
KIC 24/7在产品中采用安装于回流炉内部的客户定制探测器，从而为每项产品搜集并记录实时热工艺数据。KIC 24/7能够自动对诸如最高温度、浸透时间和液态以上时间等所有重要工艺规范进行制图。其在实时控制图中对该数据进行划分，并按照各项规范计算工序能力指数（Cpk）。KIC 24/7对总体工艺窗口指数（PWI）进行制图，从而为整个工艺提供实时Cpk。处于控制界限和已定义Cpk值以外的任何工艺群都将触发警报。实时Cpk跟踪提供了一种可在故障发生前自动识别潜在故障的零故障、自动保险系统。 |
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