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SPEA与JTAG Technologies合并

文章来源:最新采集     发布时间:2007/1/5 8:08:26  【关闭】
电子设备自动测试装置设计和生产的全球领导者SPEA S.p.A.与全球边界扫描产品供应商JTAG Technologies已宣布在SPEA 3030在线测试系统内整合其测试方法。

因此,电子设计商和制造商受益于单一工艺步骤内复杂PCB所具备的甚至更广阔的可测试性和可编程性。

SPEA的3030"多功能"测试系统已存在于市场上大多性能广泛的先进板测试器中,并具备全面的短路/开路、模拟、电源启动、数字"无矢量"和自动光学检测(AOI)测试选项。目前,通过整合JTAG Technologies边界扫描性能,用户可进一步改进其高精密度数字测试性能。据说,测试开发和部署次数进行了最小化,测试覆盖率得到了最大化,而且由于排除了测试点,设备复杂度降低了,而其中以身体接触电机节点较为有限的复杂数字PCB而言尤其如此。

JTAG Technologies开发工具配置了相关测试,这些测试经汇编在SPEA 3030内部硬件上执行,以实现仅适用于软件的整合。该解决方案完成了真正的整合,其中电路网可通过边界扫描链进行激活和/或得到感应,反之3030的引跟电子产品也可借其实现这一点。

JTAG Technologies津津乐道的测试工具可对测试结果进行诠释以用于相关分析,这些工具呈现了有关故障诱因,甚至是多重故障诱因的详情。 

 
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