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行业新闻  

YESTech展出新型F1自动光学检测系统

文章来源:最新采集     发布时间:2006/5/17 8:09:32  【关闭】
 YESTech将在于马萨诸塞州波士顿举行的2006年美国电子工业展会的第2033号展台上推出YESPC软件和F1自动光学检测(AOI)系统——的最新协同体。YESTech YTV F1系列AOI系统提供了高产量制造环境改进,其传递了无与伦比的自动化印刷电路板检测并削减了成本、改进了质量和提高了产量。因F1-Series AOI离线编程更加快捷和直观,其以实时SPC监控(提供颇具价值的提高收益解决方案,可简易地进行配置且在多个生产线中携带方便)最大化了机器利用率。

     作为对YESTech AOI技术本已强大的性能的改进,YESPC软件使高级管理层得以通过提供对制造工艺的诊断性和趋势分析做出明智的决策,这为他们节省了时间和金钱。通过提供对SMT生产工艺的实时监控和报道,管理层可即刻应对重大工艺活动。此外,YESPC软件还完全与每台结合有YESTech AOI和YTX-5000的x光/视觉系统相兼容。

     YESTech总裁Don Miller说:'YESPC和F1系列AOI都结合了拥有多年行业经验的获奖技术,从而提供了AOI解决方案的最佳价值。在整场会议中,YESTech将演示该新型YESPC软件特性和功能性及F1AOI系统的最新改进。'有关YESTech及其产品详情请访问www.yestechinc.com


 
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