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Dage在ATExpo上展出新型X射线检测和CT产品 |
| 文章来源：最新采集
发布时间:2006/9/9 8:09:51 【关闭】 |
Dage Precision Industries将在装配技术展第5606号展台上展出其X射线检测技术的两项最新发展，展会定于2006年9月26日至28日在伊利诺斯州Rosemont的Donald E. Stephens 会议中心举行。展会上将展出Dage XiDAT XD7600NT数字X射线检测系统和新型电脑断层技术(CT)选项。获奖的Dage XiDAT XD7600N特别具有新型200万像素成像系统，以实现提高的分辨率、独特的免维护包装内250纳米特征识别功能及其在整个16英寸x18英寸操作区内任意位置任意点高达70度的斜角观察功能。因具备卓越的数字采集技术和V12 ImageWizard软件，Dage x射线检查系统是适用于电子行业的最先进的X射线检测系统。获奖的XiDAT XD7600NT x射线检测系统可提供新CT选项，这一选项进一步改进了卓越的焊点三维建模和体积测量性能。新系统可提供这种新CT性能选项，该选项极其适用于对诸如堆叠晶粒、MEMS（微电机系统）、封装中之封装和堆叠封装等关键应用软件焊接互连效果进行逻辑分析。
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