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X-Tek在Nepcon上展出最新一代X射线系统 |
| 文章来源：最新采集
发布时间:2006/5/4 8:11:47 【关闭】 |
实时微焦x射线系统的领先制造商X-Tek集团将在国际电子生产设备暨微电子工业展（Nepcon）的第E40a号展台上展出最新一代'Revolution'系统和'Compact'入门级x射线系统。该Revolution系统提供紧凑系统内的最高分辨率和放大性能。诚邀参观者将产品样本带入该展台，并体验对该系统先进检测性能的演示。
该Revolution系统提供了高达75度的视角，从而提供了较所有可比系统更大的检测度。它对整个400毫米x 400毫米（16英寸x 16英寸）操纵器扫描区的扩大能力高达6000倍，从而得以对球栅阵列封装（BGA）球润湿、附着、破裂和分层进行快速分析。
该Revolution特别具备X-Tek的新型160XI Nanotech开放式x射线管，其提供了极其稳定和低维护格式（含寿命延长的易变灯丝）内的亚微分辨率。其通过所有轴上的伺服电机实现了卓越的位置准确性，从而提供了对高速和精确检测的准确反馈。
该系统使用简易，它导入了用户友好的新型InspectX软件，并为实现舒适的操作进行了人性化设计，并同时具备鼠标和操纵杆控制器及一特大型视图窗口。
该'Compact'是一种用于小量生产检测的入门级系统，其极其适用于大多数半导体封装应用和大至325 x 300毫米的印刷电路板（PCB）。X-Tek的开放式x射线管开发降低了该系统的型号、重量及成本，并同时保持了卓越的质量和性能。通过推出一专利零维护无电缆HT发生器，其预防性维护大大地减少了，从而使长期所有权成本大大低于所有可与之相匹敌的系统。 |
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